L'objectif de ce document est de faire la synthèse de tous les tests à mettre en œuvre pour le bon fonctionnement du SSD, d'évaluer l'équipement nécessaire et de spécifier les données à conserver à chaque étape des tests afin d'assurer une bonne traçabilité.

1 Test des composants :

1.1 Détecteurs

Responsable du test : A.Tarchini

Situation : détecteur arrivant de production

Objectif du test : déterminer si le détecteur remplit le cahier des charges.

Nombre total de détecteurs à tester : 400

Test à faire :	Données à stocker :
· Inspection visuelle	Þ Good/bad
· Mesure de la tension de déplétion	Þ mesure I(V), Cbulk ou Cinter-pistes(V)
· Pistes défectueuses sur chaque face	Þ mesure Ipiste(V) ou/et Cpiste(V)
· Stabilisation à tension de polarisation constante	Þ mesure Ibias (t) et Iguard (t)
	Þ remarque sur la mesure

Equipement : machine de test sous pointes

support de test pour détecteur

appareils de mesure I=f(V), C=f(V)

Cadence de test : 20 détecteurs/semaine

Remarque : reste à déterminer les critères qui permettront de définir si un détecteur est bon ou non.

1.2 circuit Alice 128 C monté sur ruban TAB

Responsable du test : A.Tarchini

Situation : Circuit Alice128 monté sur ruban TAB chez Detexis et ayant passé chez Cimulec pour découpage du ruban et marquage d'un numéro d'identification .

Objectif du test : vérifier le bon fonctionnement numérique du circuit

valider le fonctionnement de la partie analogique

Nombre total de circuit à tester : 5000

Test à faire :	Données à stocker :
· inspection visuelle	Þ good/bad
· Consommation avant/après polarisation	Þ courant avant/après polarisation Þ courant Curef
· Communication JTAG	Þ good/bad ? ? ? ? ?
· Canal transparent	Þ courbe de réponse
· Séquentiel	Þ piédestaux Þ pulses positifs et négatif (125,250)
· Token out	Þ good/bad ? ? ?

Remarque :

Quels vont être les critères d'acceptation d'un chip au niveau analogique ?

Le stockage de la courbe de réponse en canal transparent permet de déduire le gain et le temps de pic du signal. Un tri doit être fait à ce niveau pour enlever des chips qui ne fonctionnent pas avec les paramètres par défaut.

Equipement : banc de test adapté pour du test de circuits équipés du ruban TAB

Temps de test : 5min/chip

1.3 circuit Costar

Responsable du test : A.Tarchini ? ? ? C.Gojak ? ? ?

Situation : Chip Costar de retour de fonderie et non testés sur wafer

nombre total de circuits à tester : 800

Objectif du test : vérification du bon fonctionnement du circuit

Test à faire :	Données à stocker :
· Test numérique JTAG	Þ Good/bad ?
· Test analogique ?	Þ Piédestaux, linéarité ?
· Test en température ?	Þ Courbe de réponse
· Calibration ?	Þ Coefficients

Equipement : machine de test sous pointe

Temps de test : 5min/chip ???? (si même temps de test que pour Alice128C)

1.4 hybride équipé du Costar et des composants discrets

Responsable du test : A.Tarchini

Nombre total d'hybrides à tester: 800

Objectif du test : vérification du bon fonctionnement de l'hybride

Test à faire :	Données à stocker :
· Inspection visuelle	Þ Good/bad ?
· Test fonctionnel	Þ Good/bad ?
	Þ Identité de l'hybride (avec numéro Costar)

Equipement : PC + interface JTAG + connecteur + carte à pointes équipée d'Alice128C

Temps de test : 5min ???

2 Test des modules :

Responsable du test : A.Tarchini

Situation : modules de retour de production chez Detexis.

Nombre total de modules : 400

Objectif du test : validation des modules détecteur + hybride + Alice128C + Costar

Tests à faire :	Données à stocker :
· Inspection visuelle	Þ Etat bon/mauvais Þ Identité du module Þ Numéro du détecteur Þ Numéro des hybrides Þ Numéro des circuits Alice 128
· Test électrique par hybride - Consommation avant / après polarisation - Communication JTAG	Þ Courant avant / après polarisation Þ Courant Curef Þ Good/bad
· Mesure de la tension de déplétion	Þ Mesure I(V)
· Canal transparent/chip · Changement de paramètres si nécessité	Þ Courbe de réponse
· Test des voies de lecture avec générateur interne	Þ Piédestal Þ Bruit Þ gain
· Test des pistes avec diode laser	Þ Détermination des pistes défectueuses
· Stabilisation plusieurs heures avec lecture du Costar	Þ Courant du détecteur = f(t)
	Þ Remarque sur les tests Þ Déverminage (type d'intervention) Þ Changement de paramètres Alice128

Equipement : multimètre

PC + interface JTAG + connecteur

table XY et diode laser

Temps de test : ???????

Remarque : Il reste à déterminer les critères d'acceptation des modules

3 Test des cartes de connexion et des cartes ADC :

Responsable du test : C.Drancourt

Situation : Cartes de retour de production et de câblage.

Nombre total de groupes de cartes : 40

Objectif du test : vérification du bon fonctionnement des cartes

Test à faire :	Données à stocker :
· Inspection visuelle	Þ Etat bon/mauvais Þ Identité du groupe de carte
· Test DC	Þ Good/bad
· Test fonctionnel (adressage, séquencement)	Þ Good/bad
· Conversion analogique/numérique	Þ Courbe de conversion
	Þ Remarque sur les tests Þ Déverminage (type d'intervention)

Equipement : multimètre

analyseur logique + générateur logique de bit pattern

PC

Temps de test : ?????

4 Test de la carte de readout :

Responsable du test : C.Drancourt/C.Renard/P.Pichot

Situation : Cartes de retour de production et de câblage

Nombre total de carte de test : 6

Objectif du test : vérification du bon fonctionnement de la carte

Test à faire :	Données à stocker
· Inspection visuelle	Þ Identité de la carte
· Test électrique (DC)	Þ Good/bad
· Test fonctionnel / séquentiel	Þ Good/bad
· Test avec carte ADC	Þ Good/bad
	Þ Remarque sur les tests / déverminage

Equipement : multimètre

analyseur logique + générateur logique de bit pattern

carte de tes t/ châssis VME

Temps de test : ?

5 Test des échelles équipées  :

5.1 test fonctionnel

Responsable du test : C.Drancourt/A.Tarchini

Situation : échelle entièrement équipée des modules et des cartes électroniques, mais non encore enroulée dans une feuille de kapton

Nombre total d'échelles : 23

Objectif du test : vérification du bon fonctionnement de l'échelle

Test à faire :	Données à stocker :
· Inspection visuelle	Þ Good/bad
· Test DC - tension sur certain point de test - Consommation avant/après polarisation	Þ good/bad Þ courant avant/après polarisation
· Test communication JTAG	Þ good/bad
· Tension de déplétion	Þ courant de l'alimentation haute tension Þ courant de chaque détecteur mesuré par le costar
· Séquentiel · Pulses positifs et négatifs	Þ Piédestaux, bruit, Þ gain
· Test en readout avec rayonnement cosmique/ vieillissement	Þ Données de lecture sous format compatible avec analyse offline
	Þ Remarques sur les tests/déverminage

Equipement : multimètre

PC + interface JTAG + connecteur

système d'acquisition rapide (séquencement à 50MHz)

Temps de test : temps nécessaire à l'assemblage de l'échelle suivante (1 à 3 semaines)

Remarque: à ce stade, une comparaison avec les résultats de test au niveau des modules devra être fait pour évaluer l'augmentation du nombre de pistes défectueuses.

5.2 Test en température

Responsable du test : C.Drancourt/A.Tarchini

Situation : échelle entièrement équipée des modules et des cartes électroniques et enroulée dans une feuille de kapton

Nombre total d'échelles : 23

Objectif du test : stabilité en température - étalonnage - vieillissement

Test à faire :	Données à stocker :
· Test en readout avec rayonnement cosmique/ vieillissement	Þ Données de lecture sous format compatible avec analyse offline Þ Données de mesure de température avec le Costar

Equipement : multimètre

PC + interface JTAG + connecteur

système d'acquisition rapide (séquencement à 50MHz)

banc de test pour le refroidissement

Temps de test : quelques jours

6 Test du clamshell :

Responsable du test : C.Drancourt/A.Tarchini/C.Renard

Situation : Clamshell monté mécaniquement et connecté électriquement.

Objectif du test : vérification du bon fonctionnement du clamshell

Test à faire :	Données à stocker :
· Inspection visuelle	Þ Good/bad Þ Identité du clamshell
· Test électrique DC - Tension sur certains points de test - Consommation avant/après polarisation	Þ good/bad + mesure Þ courant avant/ après polarisation
· Test communication JTAG	Þ Good/bad
· Tension de déplétion	Þ Courant alimentation haute tension Þ Courant de chaque détecteur mesuré par le costar
· Séquentiel · Pulses positifs et négatifs	Þ Piédestaux, bruit Þ gain
· Test en readout avec rayonnement cosmique	Þ Données de lecture sous format compatible avec analyse offline
	Þ Remarque sur le test/déverminage

Equipement : multimètre

PC + interface JTAG + connecteur

système d'acquisition rapide + carte de test readout

Temps de test : dizaine de jours ?

7 Test du barrel sur site :

Responsable du test : J.R.Lutz

Situation : barrel arrivé sur site

Objectif du test : vérification du bon fonctionnement du barrel

Test à faire :	Données à stocker :
· Inspection visuelle	Þ Good/bad Þ Identité du clamshell
· Test électrique DC - Tension sur certains points de test - Consommation avant/après polarisation	Þ good/bad + mesure Þ courant avant/ après polarisation
· Test communication JTAG	Þ Good/bad
· Tension de déplétion	Þ Courant alimentation haute tension Þ Courant de chaque détecteur mesuré par le costar
· Séquentiel · Pulses positifs et négatifs	Þ Piédestaux, bruit Þ gain
· Test en readout avec DAQ BNL	Þ Données de lecture
	Þ Remarque sur le test/déverminage

Equipement : multimètre

PC + interface JTAG + connecteur

système d'acquisition rapide + carte de test readout + DAQ BNL

Données à stocker : numéro des pistes défectueuses

nouvelles valeurs des piédestaux/bruit/gain par voie

Temps de test : dizaine de jours ?